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利用霍爾電流傳感器在車用電源系統(tǒng)中的應(yīng)用
本文使用閉環(huán)霍爾電流傳感器（以下簡(jiǎn)稱傳感器）在車用電源系統(tǒng)中的應(yīng)用，實(shí)現(xiàn)了對(duì)電源系統(tǒng)輸出電流的隔離測(cè)量，并通過(guò)反饋控制電源系統(tǒng)的輸出電流。
2013-03-18
霍爾 電流 電源
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單片機(jī)系統(tǒng)EMC測(cè)試
EMC測(cè)試包括兩大方面內(nèi)容：對(duì)其向外界發(fā)送的電磁騷擾強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)試、對(duì)其在規(guī)定電磁騷擾強(qiáng)度的電磁環(huán)境條件下進(jìn)行敏感度測(cè)試，對(duì)于從事單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)設(shè)計(jì)的工程技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，掌握一定的EMC測(cè)試技術(shù)是十分必要的。
2013-03-17
單片機(jī) EMC 測(cè)試
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TriQuint榮獲2013年度中國(guó)電子成就獎(jiǎng)
TriQuint半導(dǎo)體公司榮獲2013年度電子成就獎(jiǎng)?(China ACE Awards) 之“年度最佳現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用支持獎(jiǎng)”。這個(gè)享有盛譽(yù)的獎(jiǎng)項(xiàng)充分肯定了TriQuint公司卓越的技術(shù)支持和服務(wù)的長(zhǎng)期承諾。
2013-03-17
TriQuint 獲獎(jiǎng)
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淺談?lì)l譜儀對(duì)EMI測(cè)試速度的影響
本文以輻射發(fā)射測(cè)試為例，在分析了測(cè)試流程的基礎(chǔ)上，詳細(xì)討論了頻譜儀對(duì)EMI測(cè)試速度的影響。選擇合適的頻譜儀，不僅可以提高測(cè)試精度，增強(qiáng)對(duì)測(cè)試結(jié)果的信心，而且可以改善EMI測(cè)試吞吐率。
2013-03-16
頻譜儀 EMI
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如何改善EMI測(cè)試吞吐率
越來(lái)越多的EMC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室正努力提高EMI測(cè)試速度，加快收回成本的速度，贏取更多的EMC測(cè)試市場(chǎng)。本文像讀者介紹了EMI測(cè)試吞吐率以及如何改善EMI測(cè)試吞吐率。
2013-03-16
EMI測(cè)試 吞吐率
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IR將攜最新節(jié)能電源管理方案參展2013慕尼黑上海電子展
IR宣布，將攜行業(yè)領(lǐng)先的節(jié)能電源管理解決方案參展2013慕尼黑上海電子展。該展覽會(huì)將于2013年3月19至21日在上海新國(guó)際博覽中心舉行。
2013-03-16
IR 電源管理 慕尼黑電子展
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Cadence宣布收購(gòu)Tensilica，達(dá)成最終協(xié)議
Cadence近日宣布，其已就以約3億8千萬(wàn)美元的現(xiàn)金收購(gòu)Tensilica，達(dá)成了一項(xiàng)最終協(xié)議。截至2012年12月31日，Tensilica擁有約3千萬(wàn)美元的現(xiàn)金。
2013-03-16
Cadence Tensilica 收購(gòu)
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ADI推出FPGA夾層卡快速原型開(kāi)發(fā)套件
ADI FPGA開(kāi)發(fā)平臺(tái)兼容的FPGA夾層卡(FMC)系列采用JEDEC JESD204B SerDes（串行器/解串器）技術(shù)，最近該系列推出新品AD9250-FMC-250EBZ套件。數(shù)字和模擬設(shè)計(jì)人員可以利用AD9250-FMC-250EBZ套件簡(jiǎn)化并快速完成高速 JESD204B A/D converter-to-FPGA 平臺(tái)的原型開(kāi)發(fā)。
2013-03-16
ADI FPGA 開(kāi)發(fā)套件
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如何使用拉線式位移傳感器在工業(yè)中的應(yīng)用
本文基于磁敏角度技術(shù)的拉線式位移傳感器以磁場(chǎng)為傳輸載體，將位移變換轉(zhuǎn)換為磁場(chǎng)角度位移，同時(shí)，通過(guò)通信接口將位移信號(hào)返回給應(yīng)用系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，輸出信號(hào)大，使用方便，價(jià)格低廉。
2013-03-15
位移 傳感 拉線式
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